หน้าแรก ข้อบังคับและมาตรฐาน มอก.2166-2548

เอกสารมาตรฐาน

มอก.2166-2548

หน่วยงานออกใบรับรอง

  1. สำนักงานมาตรฐานผลิตภัณฑ์อุตสาหกรรม (สมอ.)

ขอบข่ายการรับรอง

  1. เคเบิลเส้นใยนำแสง เล่ม 3-20 เคเบิลภายนอกอาคาร -ข้อกำหนดคุณลักษณะเป็นรายกลุ่มสำหรับเคเบิลเส้นใยนำแสงโทรคมนาคม แขวนในอากาศรับน้ำหนักตัวเองได้

ประเภทของมาตรฐาน

  1. บังคับ

เกณฑ์ยอมรับ รายการทดสอบ หน่วยทดสอบ
การกระแทก: Impact Test (IEC 794-1-2 วิธี E4) จำนวน 1 แกน,2 แกนและ 6 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การกระแทก: Impact Test (IEC 794-1-2 วิธี E4) จำนวน 216 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การกระแทก: Impact Test (IEC 794-1-2 วิธี E4) จำนวน 24 แกนและ 48 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การกระแทก: Impact Test (IEC 794-1-2 วิธี E4) จำนวน 312 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การกระแทก: Impact Test (IEC 794-1-2 วิธี E4) จำนวน 8 แกนและ 12 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การกระแทก: Impact Test (IEC 794-1-2 วิธี E4) จำนวน 96 แกน,120 แกน และ 144 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การบิดตามแนวเคเบิล: Torsion or Twist Test (IEC 794-1-2 วิธี E7) จำนวน 1 แกน,2 แกนและ 6 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การบิดตามแนวเคเบิล: Torsion or Twist Test (IEC 794-1-2 วิธี E7) จำนวน 216 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การบิดตามแนวเคเบิล: Torsion or Twist Test (IEC 794-1-2 วิธี E7) จำนวน 24 แกนและ 48 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การบิดตามแนวเคเบิล: Torsion or Twist Test (IEC 794-1-2 วิธี E7) จำนวน 312 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การบิดตามแนวเคเบิล: Torsion or Twist Test (IEC 794-1-2 วิธี E7) จำนวน 8 แกนและ 12 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การบิดตามแนวเคเบิล: Torsion or Twist Test (IEC 794-1-2 วิธี E7) จำนวน 96 แกน,120 แกน และ 144 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การโค้งงอซ้ำ: Repeated Bending Test (IEC 794-1-2 วิธี E6) จำนวน 1 แกน,2 แกนและ 6 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การโค้งงอซ้ำ: Repeated Bending Test (IEC 794-1-2 วิธี E6) จำนวน 216 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การโค้งงอซ้ำ: Repeated Bending Test (IEC 794-1-2 วิธี E6) จำนวน 24 แกนและ 48 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การโค้งงอซ้ำ: Repeated Bending Test (IEC 794-1-2 วิธี E6) จำนวน 312 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การโค้งงอซ้ำ: Repeated Bending Test (IEC 794-1-2 วิธี E6) จำนวน 8 แกนและ 12 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
การโค้งงอซ้ำ: Repeated Bending Test (IEC 794-1-2 วิธี E6) จำนวน 96 แกน,120 แกน และ 144 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ความยาวคลื่นตัดของเส้นใยนำแสงในเคเบิล: Cut-off Wavelength (IEC 60793-1-44 วิธี B) จำนวน 1 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ความยาวคลื่นตัดของเส้นใยนำแสงในเคเบิล: Cut-off Wavelength (IEC 60793-1-44 วิธี B) จำนวน 12 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ความยาวคลื่นตัดของเส้นใยนำแสงในเคเบิล: Cut-off Wavelength (IEC 60793-1-44 วิธี B) จำนวน 120 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ความยาวคลื่นตัดของเส้นใยนำแสงในเคเบิล: Cut-off Wavelength (IEC 60793-1-44 วิธี B) จำนวน 144 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ความยาวคลื่นตัดของเส้นใยนำแสงในเคเบิล: Cut-off Wavelength (IEC 60793-1-44 วิธี B) จำนวน 2 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ความยาวคลื่นตัดของเส้นใยนำแสงในเคเบิล: Cut-off Wavelength (IEC 60793-1-44 วิธี B) จำนวน 216 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ความยาวคลื่นตัดของเส้นใยนำแสงในเคเบิล: Cut-off Wavelength (IEC 60793-1-44 วิธี B) จำนวน 24 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ความยาวคลื่นตัดของเส้นใยนำแสงในเคเบิล: Cut-off Wavelength (IEC 60793-1-44 วิธี B) จำนวน 312 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ความยาวคลื่นตัดของเส้นใยนำแสงในเคเบิล: Cut-off Wavelength (IEC 60793-1-44 วิธี B) จำนวน 48 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ความยาวคลื่นตัดของเส้นใยนำแสงในเคเบิล: Cut-off Wavelength (IEC 60793-1-44 วิธี B) จำนวน 6 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ความยาวคลื่นตัดของเส้นใยนำแสงในเคเบิล: Cut-off Wavelength (IEC 60793-1-44 วิธี B) จำนวน 8 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ความยาวคลื่นตัดของเส้นใยนำแสงในเคเบิล: Cut-off Wavelength (IEC 60793-1-44 วิธี B) จำนวน 96 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดสีของเส้นใยนำแสง จำนวน 1 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดสีของเส้นใยนำแสง จำนวน 12 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดสีของเส้นใยนำแสง จำนวน 120 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดสีของเส้นใยนำแสง จำนวน 144 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดสีของเส้นใยนำแสง จำนวน 2 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดสีของเส้นใยนำแสง จำนวน 216 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดสีของเส้นใยนำแสง จำนวน 24 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดสีของเส้นใยนำแสง จำนวน 312 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดสีของเส้นใยนำแสง จำนวน 48 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดสีของเส้นใยนำแสง จำนวน 6 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดสีของเส้นใยนำแสง จำนวน 8 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดสีของเส้นใยนำแสง จำนวน 96 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดเส้นผ่านศูนย์กลางภายนอก ภายหลังเคลือบสีแล้ว: Outer diameter including colouring จำนวน 1 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดเส้นผ่านศูนย์กลางภายนอก ภายหลังเคลือบสีแล้ว: Outer diameter including colouring จำนวน 12 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดเส้นผ่านศูนย์กลางภายนอก ภายหลังเคลือบสีแล้ว: Outer diameter including colouring จำนวน 120 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดเส้นผ่านศูนย์กลางภายนอก ภายหลังเคลือบสีแล้ว: Outer diameter including colouring จำนวน 144 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดเส้นผ่านศูนย์กลางภายนอก ภายหลังเคลือบสีแล้ว: Outer diameter including colouring จำนวน 2 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดเส้นผ่านศูนย์กลางภายนอก ภายหลังเคลือบสีแล้ว: Outer diameter including colouring จำนวน 216 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดเส้นผ่านศูนย์กลางภายนอก ภายหลังเคลือบสีแล้ว: Outer diameter including colouring จำนวน 24 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดเส้นผ่านศูนย์กลางภายนอก ภายหลังเคลือบสีแล้ว: Outer diameter including colouring จำนวน 312 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดเส้นผ่านศูนย์กลางภายนอก ภายหลังเคลือบสีแล้ว: Outer diameter including colouring จำนวน 48 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดเส้นผ่านศูนย์กลางภายนอก ภายหลังเคลือบสีแล้ว: Outer diameter including colouring จำนวน 6 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดเส้นผ่านศูนย์กลางภายนอก ภายหลังเคลือบสีแล้ว: Outer diameter including colouring จำนวน 8 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าดำเนินการวัดเส้นผ่านศูนย์กลางภายนอก ภายหลังเคลือบสีแล้ว: Outer diameter including colouring จำนวน 96 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าเตรียมตัวอย่าง จำนวน 1 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าเตรียมตัวอย่าง จำนวน 12 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าเตรียมตัวอย่าง จำนวน 120 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าเตรียมตัวอย่าง จำนวน 144 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าเตรียมตัวอย่าง จำนวน 2 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าเตรียมตัวอย่าง จำนวน 216 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าเตรียมตัวอย่าง จำนวน 24 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าเตรียมตัวอย่าง จำนวน 312 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าเตรียมตัวอย่าง จำนวน 48 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าเตรียมตัวอย่าง จำนวน 6 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าเตรียมตัวอย่าง จำนวน 8 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
ค่าเตรียมตัวอย่าง จำนวน 96 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
สัมประสิทธิ์การลดทอนสัญญาณ: Attenuation coefficient และความไม่ต่อเนื่องของค่าการลดทอน: discontinuities at 1 310 nm and 1 550 nm (IEC 60793-1-40 วิธี C) จำนวน 1 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
สัมประสิทธิ์การลดทอนสัญญาณ: Attenuation coefficient และความไม่ต่อเนื่องของค่าการลดทอน: discontinuities at 1 310 nm and 1 550 nm (IEC 60793-1-40 วิธี C) จำนวน 12 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
สัมประสิทธิ์การลดทอนสัญญาณ: Attenuation coefficient และความไม่ต่อเนื่องของค่าการลดทอน: discontinuities at 1 310 nm and 1 550 nm (IEC 60793-1-40 วิธี C) จำนวน 120 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
สัมประสิทธิ์การลดทอนสัญญาณ: Attenuation coefficient และความไม่ต่อเนื่องของค่าการลดทอน: discontinuities at 1 310 nm and 1 550 nm (IEC 60793-1-40 วิธี C) จำนวน 144 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
สัมประสิทธิ์การลดทอนสัญญาณ: Attenuation coefficient และความไม่ต่อเนื่องของค่าการลดทอน: discontinuities at 1 310 nm and 1 550 nm (IEC 60793-1-40 วิธี C) จำนวน 2 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
สัมประสิทธิ์การลดทอนสัญญาณ: Attenuation coefficient และความไม่ต่อเนื่องของค่าการลดทอน: discontinuities at 1 310 nm and 1 550 nm (IEC 60793-1-40 วิธี C) จำนวน 216 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
สัมประสิทธิ์การลดทอนสัญญาณ: Attenuation coefficient และความไม่ต่อเนื่องของค่าการลดทอน: discontinuities at 1 310 nm and 1 550 nm (IEC 60793-1-40 วิธี C) จำนวน 24 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
สัมประสิทธิ์การลดทอนสัญญาณ: Attenuation coefficient และความไม่ต่อเนื่องของค่าการลดทอน: discontinuities at 1 310 nm and 1 550 nm (IEC 60793-1-40 วิธี C) จำนวน 312 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
สัมประสิทธิ์การลดทอนสัญญาณ: Attenuation coefficient และความไม่ต่อเนื่องของค่าการลดทอน: discontinuities at 1 310 nm and 1 550 nm (IEC 60793-1-40 วิธี C) จำนวน 48 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
สัมประสิทธิ์การลดทอนสัญญาณ: Attenuation coefficient และความไม่ต่อเนื่องของค่าการลดทอน: discontinuities at 1 310 nm and 1 550 nm (IEC 60793-1-40 วิธี C) จำนวน 6 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
สัมประสิทธิ์การลดทอนสัญญาณ: Attenuation coefficient และความไม่ต่อเนื่องของค่าการลดทอน: discontinuities at 1 310 nm and 1 550 nm (IEC 60793-1-40 วิธี C) จำนวน 8 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
สัมประสิทธิ์การลดทอนสัญญาณ: Attenuation coefficient และความไม่ต่อเนื่องของค่าการลดทอน: discontinuities at 1 310 nm and 1 550 nm (IEC 60793-1-40 วิธี C) จำนวน 96 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
แรงดึงที่กระทำกับเคเบิล: Tensile Performance Test (IEC 794-1-2 วิธี E1A and E1B) จำนวน 1 แกน,2 แกนและ 6 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
แรงดึงที่กระทำกับเคเบิล: Tensile Performance Test (IEC 794-1-2 วิธี E1A and E1B) จำนวน 216 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
แรงดึงที่กระทำกับเคเบิล: Tensile Performance Test (IEC 794-1-2 วิธี E1A and E1B) จำนวน 24 แกนและ 48 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
แรงดึงที่กระทำกับเคเบิล: Tensile Performance Test (IEC 794-1-2 วิธี E1A and E1B) จำนวน 312 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
แรงดึงที่กระทำกับเคเบิล: Tensile Performance Test (IEC 794-1-2 วิธี E1A and E1B) จำนวน 8 แกนและ 12 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)
แรงดึงที่กระทำกับเคเบิล: Tensile Performance Test (IEC 794-1-2 วิธี E1A and E1B) จำนวน 96 แกน,120 แกน และ 144 แกน สถาบันไฟฟ้าและอิเล็กทรอนิกส์ (EEI)

เว็บไซต์นี้มีการใช้งานคุกกี้ เพื่อให้การใช้งานเว็บไซต์เป็นไปอย่างราบรื่นและเป็นส่วนตัว จึงขอให้ท่านรับรองว่าท่านได้อ่านและทำความเข้าใจนโยบายการใช้งานคุกกี้

และสามารถศึกษา นโยบายการคุ้มครองข้อมูลส่วนบุคคล สวทช. ที่นี่.

Top